儀器儀表
精微高博比表面及孔徑測(cè)試儀榮獲中國(guó)計(jì)量院測(cè)試證書
2009-7-16 來源:北京精微高博科學(xué)技術(shù)有限公司
關(guān)鍵詞：孔徑分布測(cè)試儀器 北京精微高博
2009-7-16 來源:北京精微高博科學(xué)技術(shù)有限公司
關(guān)鍵詞：孔徑分布測(cè)試儀器 北京精微高博
2009年7月1日，北京精微高博JW-BK型靜態(tài)容量法比表面積及孔徑分析儀，榮獲了中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院的測(cè)試證書。中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院測(cè)試依據(jù)是國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T21650.2 第二部分 氣體吸附法分析介孔和大孔以及GB/T19587 氣體吸附BET法測(cè)定固體物質(zhì)比表面積，用國(guó)產(chǎn)JW-BK型儀器測(cè)定美國(guó)特制的孔徑標(biāo)準(zhǔn)樣品，測(cè)試結(jié)果充分證明了國(guó)產(chǎn)JW-BK型儀器測(cè)量精確度高，重復(fù)性好，標(biāo)志著其性能已達(dá)到國(guó)際先進(jìn)水平，完全可以代替進(jìn)口。
在中國(guó)，本次檢測(cè)是對(duì)國(guó)產(chǎn)孔徑分布測(cè)試儀器的首例檢測(cè)，無疑是對(duì)JW-BK型比表面積及孔徑分析測(cè)試儀質(zhì)量的有力鑒證,也是對(duì)那些故意攻擊國(guó)產(chǎn)比表面積及孔徑分布儀技術(shù)不過關(guān)、不成熟人們的迎頭一擊。
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（子妍）
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