理解高分子體系宏觀性能的基礎(chǔ)是對其微觀結(jié)構(gòu)的準(zhǔn)確認(rèn)識，表征高分子體系微觀結(jié)構(gòu)常見的手段包括以 TEM, SEM, AFM 等為代表的顯微學(xué)實空間方法和以 X 射線及中子散射與衍射為代表的倒空間方法。兩類實驗手段互相補充、印證，缺一不可。實空間手段因其結(jié)果直觀而受到歡迎致使人們往往忽略了其統(tǒng)計平均性差的缺點，倒空間的手段盡管無法提供直接的微觀形貌，但其結(jié)果包含大量樣本的平均信息而受到重視。另外，近年來發(fā)展起來的同步輻射技術(shù)使得 X 射線散射實驗可以達(dá)到甚至遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于高分子體系結(jié)構(gòu)形成與演化的時間尺度，這就使得實時在線的研究工作成為可能。本報告將介紹 X 射線小角散射的主要特點及其在表征高分子結(jié)構(gòu)演化方面的優(yōu)勢。通過若干實驗實例，重點闡述本課題組在利用 X 射線散射與衍射手段研究結(jié)晶高分子體系在拉伸形變過程中的微觀結(jié)構(gòu)演化行為方面的工作，進(jìn)而總結(jié)相關(guān)體系塑性形變的微觀機理。
