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| 資料類型： |
PDF文件
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| 關(guān)鍵詞： |
BiB3O6晶體 缺陷 同步輻射白光形貌術(shù) |
| 資料大?。?/td>
| 139K |
| 所屬學科： |
結(jié)構(gòu)表征 |
| 來源： |
來源網(wǎng)絡(luò) |
| 簡介： |
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利用同步輻射白光形貌術(shù)和透射電子顯微鏡，對BiB3O6晶體的缺陷進行研究。靠近籽晶部位，可以觀察到包藏、位錯和生長扇面邊界，而遠離籽晶的位置，沒有發(fā)現(xiàn)任何微觀的缺陷。通過實驗觀察，孿晶和生長扇面邊界可能是導致晶體中褐色區(qū)域的形成原因。提出了消除缺陷的方法。 |
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| 上傳人： |
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| 上傳時間： |
2007-07-17 16:23:34 |
| 下載次數(shù)： |
574 |
| 消耗積分： |
2
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